x.test IoT-Seminar in Wien

Sie waren bei unserem IoT-Seminar dabei?

Das freut uns!

Hier gibt es die Folien der Vorträge als Download:

• Vortrag 1: (Spektrum)analyse im RF-Bereich für IoT (Christian Bauer)
• Vortrag 2: Herausforderung IoT – wo stehen wir, wo geht die Reise hin? (Thomas Kuschel)
• Vortrag 3: EMV – und Antennenmessungen für IoT (Yoram Shimoni)
• Vortrag 4: Strommessungen für IoT (Matthias Töller)

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Viele Geräte in der Industrie und im alltäglichen Leben werden vernetzter und verfügen immer öfter über Kommunikationsfähigkeiten, als das bisher der Fall war.

Damit einher geht auch eine steigende Komplexität bei der Entwicklung von Hardware. Viele Unternehmen und TechnikerInnen müssen sich z.B. mit drahtlosen Übertragungswegen und den zugehörigen Regulationen auseinandersetzen. Aber auch die Messung kleiner Ströme mit hoher Dynamik spielt eine immer größere Rolle, um die verschiedenen Zustände eines IoT-Gerätes zu charakterisieren.

Um Ihnen einen Überblick zu geben, wie Sie verschiedene Messungen an IoT-Geräten angehen können, haben wir ein kostenloses Seminar organisiert.

Wann?
31.5. 9:00-16:00

Anmeldeschluss ist der 25.5. Bitte kommen Sie am Tag der Veranstaltung mindestens 20 Minuten vor Veranstaltungsbeginn, um sich rechtzeitig zu registrieren (Registrierung ab 8:00 möglich)

Wo?
Hotel Wimberger GmbH | Neubaugürtel 34-36 | 1070 Wien | Österreich

Für das leibliche Wohl in Form von Getränken und Speisen wird gesorgt. Nach der Veranstaltung ab ca. 16:00 wird es für alle, die es nicht so eilig haben, einen gemütlichen Ausklang geben.

Agenda
09:00 – 10:20 Analyse im RF-Bereich für IoT / C. Bauer, x.test
Vergleich verschiedener Messverfahren am Beispiel Spektrum-Analyzer und Oszilloskop, Lokalisieren von Störquellen, Modulationsanalyse

10:20 – 10:30 Kaffeepause

10:30 – 12:00 Herausforderung IoT – wo stehen wir, wohin geht die Reise? / T. Kuschel, FH Technikum Wien
Allgemeine Herausforderungen, benötigte Technologien, Netzwerk- und Sicherheitsaspekte

12:00 – 13:00 Mittagspause

13:00 – 14:30 EMV – und Antennenmessungen für IoT / Y. Shimoni, Y.I.C. Technologies (englisch)
EMV-Nahfeldmessungen (Position, Frequenz, Pegel) und Antennenmessungen (Wirkungsgrad, Richtdiagram, Frequenzbereich) an IoT-Devices

14:30 – 14:40 Kaffeepause

14:40 – 16:00 Strommessungen für IoT / M. Töller, x.test
Vergleich verschiedener Messmöglichkeiten von Strom,
Strommessungen mit hoher Dynamik im Bereich von pA bis A und hoher Bandbreite bei IoT Devices

16:00 – Abschlussdiskussion und gemütlicher Ausklang

Sie werden bei dieser Veranstaltung die Gelegenheit haben, sich sowohl mit unseren internen Experten sowie den Vortragenden der FH Technikum Wien und Y.I.C. Technologies auszutauschen und Ihre individuellen Fragen zu stellen.